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供應(yīng)x熒光電鍍厚度檢測儀 X熒光電鍍檢測機(jī)器設(shè)備可測元素范圍: 鈦() – 鈾(U) 可測量厚度范圍: 原子序22-25,0.1-0.8μm 26-40,0.05-35μm 43-52,0.1-100μm 72-82,0.05-5μm
電鍍層分析儀 X熒光電鍍層分析機(jī)器設(shè)備 采用了FlexFP-Multi技術(shù),無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制,還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機(jī)抽檢和全檢,我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。 分析電鍍層膜厚儀器設(shè)備 X射線熒光技術(shù)測試鍍層厚度的應(yīng)用,提了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗條件,無損、快速和更準(zhǔn)確的特點,對在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗的保障。
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